日立 FT9200系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀
價 格：詢價
產 地：更新時間：2020-12-15 09:36
品 牌：日立型 號：FT9200系列
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產品介紹
日立 FT9200系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀
儀器簡介：
是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。是***個本公司膜厚儀FT系列的標準機型。有適用線路板用的FT9250、有適用大型線路板用的FT9255、可以對應廣泛的應用程序。
技術參數：
可測量元素：原子序數22(Ti)～92(U)
X射線源：小型空氣冷卻型X射線管球 管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗
濾波器：***次濾波器：Al-自動切換 二次濾波器：Co-自動切換
檢測器：比例計數管
準直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圓形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm
安全性能：裝有樣品門聯鎖、防沖撞的功能
樣品圖像對焦方式：激光自動對焦
樣品觀察：CCD固定倍率、鹵素燈照明 選購項：倍率切換（***大130倍）
修正功能：底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
測量報告書制作：配備MS-EXCEL MS-WORD(使用宏支持自動制作測量報告書)測量能譜與樣品圖像保存功能
主要特點：
1. 能夠測量無鉛焊錫
配備了薄膜FP法，可以同時測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份
2. 搭載中心搜索軟件
通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。
3. 擁有防沖功能
4. 搭載激光對焦系統
5. 即時生成測量報告的便捷性
運用搭載的Microsoft Word Excel 可以簡單輕松得到制作報告。
6. 擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件
7. 搭載了薄膜FP法軟件
8. 自動對焦功能
配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。
應用
| SFT No.2 | 鉛單體（free）鍍金的測量案例SnBiAgCu系 |
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| SFT No.3 | 焊錫的測量 |
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| SFT No.5 | 超薄Au鍍膜的測量 |
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| SFT No.25 | 超薄Au，Pd，Ni磷青銅的的三層鍍層測量 |
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| SFT No.27 | 使用SFT9500觀察封裝線路板中的鉛 |
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| SFT No.29 | 介紹SFT9500的極薄膜Au鍍層的測量事例
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滬公網安備31011502016460號
